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半導體檢測系列
晶圓Chip外觀檢查機
伺服馬達軸搭配光學尺,其往復定位精度於±3um,提供光學模組精準定位。
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機台特點
詳細規格
專業設備,高品質保證,改良傳統人力檢測的缺點。
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殘氧
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刮傷
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正常
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